@Article{Milka2012,
journal="Klinika Oczna / Acta Ophthalmologica Polonica",
issn="0023-2157",
volume="114",
number="1",
year="2012",
title="Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) 
w okulistyce",
abstract="Mikroskop sił atomowych (Atomic Force Microscope – AFM) jest urządzeniem umożliwiającym badanie powierzchni obiektów   w skali nano. Celem pracy jest przedstawienie historii wprowadzenia AFM do praktyki badawczej i klinicznej w dziedzinie okulistyki   oraz możliwości jego zastosowania. W 1986 r. Binning skonstruował AFM z myślą o zastąpieniu nim skaningowego mikroskopu tunelowego (STM). Zasada działania AFM opiera się na pomiarze oddziaływań międzyatomowych między sondą skanującą a badaną   powierzchnią. Dzięki temu uzyskany trójwymiarowy obraz powierzchni ma rozdzielczość rzędu nanometrów. Jednym z pierwszych   naukowców, który zastosował na szeroką skalę AFM w okulistyce, był Yamamoto. Pierwsze próby zastosowania tej techniki podjęto w badaniach nad strukturą włókien kolagenowych rogówki i twardówki. Nasze badania dotyczą analizy powierzchni sztucznych   soczewek wewnątrzgałkowych (IOL). W przeciwieństwie do autorów wcześniej publikowanych prac (Lombardo i wsp.), którzy badali natywne IOL, skoncentrowaliśmy się na soczewkach eksplantowanych z oczu ludzkich, które przez określony czas były narażone na działanie wewnątrzgałkowego środowiska wodnego i poddane związanym z nim wpływom, jakie wywołuje oddziaływanie   procesów biochemicznych na ich strukturę. Przedstawiamy wstępne wyniki naszych prac w postaci obrazów AFM powierzchni   IOL w skali nano, na których obserwujemy odkładanie się różnych depozytów barwnikowo-osadowych oraz tworzenie lokalnych   zwapnień. Wierzymy, że AFM jest użyteczną metodą badania struktury powierzchni IOL, a dalsze obserwacje pozwolą wyjaśnić   patomechanizm powstawania zmętnienia sztucznych soczewek wewnątrzgałkowych.",
author="Milka, Michał
and Mróz, Iwona
and Jastrzębska, Maria
and Wrzalik, Roman
and Dobrowolski, Dariusz
and Roszkowska, Anna
and Moćko, Lucyna
and Wylęgała, Edward",
pages="71--74",
url="https://www.termedia.pl/Application-of-atomic-force-microscopy-AFM-in-ophthalmology,124,48353,1,1.html"
}