Zastosowanie mikroskopii sił atomowych (AFM) w okulistyce - Milka, Michał; Mróz, Iwona; Jastrzębska, Maria; Wrzalik, Roman; Dobrowolski, Dariusz; Roszkowska, Anna; Moćko, Lucyna; Wylęgała, Edward (Klinika Oczna / Acta Ophthalmologica Polonica, 2012)
Mikroskop sił atomowych (Atomic Force Microscope – AFM) jest urządzeniem umożliwiającym badanie powierzchni obiektów w skali nano. Celem pracy jest przedstawienie historii wprowadzenia AFM do praktyki badawczej i klinicznej w dziedzinie okulistyki oraz możliwości jego zastosowania. W 1986 r. Binning skonstruował AFM z myślą o zastąpieniu nim skaningowego mikroskopu tunelowego (STM). Zasada działania AFM opiera się na pomiarze oddziaływań międzyatomowych między sondą skanującą a badaną powierzchnią. Dzięki temu uzyskany trójwymiarowy obraz powierzchni ma rozdzielczość rzędu nanometrów. Jednym z pierwszych naukowców, który zastosował na szeroką skalę AFM w okulistyce, był Yamamoto. Pierwsze próby zastosowania tej techniki podjęto w badaniach nad strukturą włókien kolagenowych rogówki i twardówki. Nasze badania dotyczą analizy powierzchni sztucznych soczewek wewnątrzgałkowych (IOL). W przeciwieństwie do autorów wcześniej publikowanych prac (Lombardo i wsp.), którzy badali natywne IOL, skoncentrowaliśmy się na soczewkach eksplantowanych z oczu ludzkich, które przez określony czas były narażone na działanie wewnątrzgałkowego środowiska wodnego i poddane związanym z nim wpływom, jakie wywołuje oddziaływanie procesów biochemicznych na ich strukturę. Przedstawiamy wstępne wyniki naszych prac w postaci obrazów AFM powierzchni IOL w skali nano, na których obserwujemy odkładanie się różnych depozytów barwnikowo-osadowych oraz tworzenie lokalnych zwapnień. Wierzymy, że AFM jest użyteczną metodą badania struktury powierzchni IOL, a dalsze obserwacje pozwolą wyjaśnić patomechanizm powstawania zmętnienia sztucznych soczewek wewnątrzgałkowych.